2014年1月2日，總部位於美國亞里桑納州的ON Semiconductor Corporation，及其關係企業Semiconductor Components Industries, LLC（下稱ON），向東德州聯邦地方法院（Eastern District of Texas）提起訴訟，控告總部分別位於比利時和美國加州的CMOS Image Sensor供應商CMOSIS N.V.，及CMOSIS下游客戶AlliedSens LLC，及德國相機品牌商Leica Camera AG（下合稱被告），所販售或使用的CMOS Image Sensors（CMOS影像感測器），侵害其四項專利權。ON除要求法院禁止被告的侵權行為外，並要求被告賠償其損失。
本案原告和被告都與原Cypress比利時子公司Cypress Semiconductor Corporation (Belgium) BVBA（下稱Cypress Belgium）有關係，原告ON Semiconductor從Cypress Belgium取得本案四項專利；被告CMOSIS N.V.則是由一群Cypress Belgium離開的員工所創立。CMOSIS N.V.則又是AlliedSens LLC和Leica Camera AG的供應商。
本案第一項系爭專利為美國專利編號US 5,933,190，專利名稱為「畫素結構及使用此畫素結構和相對應的周邊電路的影像感測器（Pixel Structure, Image Sensor Using Such Pixel Structure and Corresponding Peripheral Circuitry）」，於1999年8月3日核發，是由Bart Dierickx等人所研發的專利，原專利權人是IMEC VZW。
本案第二項系爭專利為美國專利編號US 6,011,251，專利名稱為「具有CMOS畫素結構的高動態範圍讀取信號及此CMOS畫素結構的方法（Method for Obtaining a High Dynamic Range Read-Out Signal of a CMOS-Based Pixel Structure and Such CMOS-Based Pixel Structure）」，於2000年1月4日核發，是由Bart Dierickx等人所研發的專利，原專利權人是IMEC VZW。
本案第三項系爭專利為美國專利編號US 7,408,195，專利名稱為「降低偵測靈敏度的半導體畫素陣列（Semiconductor Pixel Arrays with Reduced Sensitivity to Defects）」，於2008年8月5日核發，是由Guy Meynants等人所研發的專利，原專利權人是Cypress Belgium。
本案第四項系爭專利為美國專利編號US 7,608,516，專利名稱為「降低偵測靈敏度的半導體畫素陣列（Semiconductor Pixel Arrays with Reduced Sensitivity to Defects）」，於2009年10月27日核發，是由Guy Meynants等人所研發的專利，原專利權人是Cypress Belgium。此專利是本案第三項系爭專利US 7,408,195的分割案。
此外，由於本案第三和第四項專利發明人Guy Meynants，目前是本案被告之一CMOSIS N.V.的研發副總兼技術長，因此ON Semiconductor特別援引讓與人禁反言原則（The Doctrine of Assignor Estoppel）提醒Guy Meynants，目的是防止Guy Meynants於日後辯稱ON Semiconductor的兩項專利專利無效。（795字；表1；圖1）
表一、專利訴訟案件基本資料：ON Semiconductor Corporation et al v. CMOSIS N.V. et al
| 訴訟名稱 |
ON Semiconductor Corporation et al v. CMOSIS N.V. et al |
| 提告日期 |
2014/01/02 |
| 原告 |
ON Semiconductor Corporation；Semiconductor Components Industries LLC |
| 被告 |
CMOSIS N.V.；AlliedSens LLC；Leica Camera AG |
| 案號 |
2:14-cv-00001 |
| 訴訟法院 |
Texas Eastern District Court |
| 系爭專利 |
US 5,933,190；US 6,011,251；US 7,408,195；US 7,608,516 |
| 系爭產品 |
CMOS Image Sensors |
| 訴狀下載 |
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Source: 科技政策研究與資訊中心—科技產業資訊室整理，2014/01
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